發(fā)布日期:2014-04-21 08:57:15 瀏覽次數(shù):4338
電容測(cè)試儀儀器開路校正功能能消除與被測(cè)元件相并聯(lián)的雜散導(dǎo)納(G,B)造成的誤差。開路校正包括采用插入計(jì)算法的全頻開路校正和對(duì)所設(shè)定的頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻開路校正。
特別注意:當(dāng)進(jìn)行開路校正時(shí)應(yīng)將測(cè)試夾具連接到電容測(cè)試儀儀器測(cè)試端。夾具開路,不連接到任何被測(cè)元件。
按軟鍵ON,使開路校正有效,電容測(cè)試儀儀器將在以后的測(cè)試過程中進(jìn)行開路校正計(jì)算。
按軟鍵OFF,關(guān)閉開路校正功能。以后的測(cè)量過程中將不再進(jìn)行開路校正的計(jì)算。
按軟鍵開路全頻清,電容測(cè)試儀儀器將對(duì)可測(cè)試的頻率點(diǎn)的開路導(dǎo)納(電容和電感)進(jìn)行測(cè)量。開路全頻校正大約需要15秒的時(shí)間。在開路全頻校正過程中,顯示軟鍵:放棄
放棄軟鍵可中止當(dāng)前的開路校正測(cè)試操作。保留原來的開路校正數(shù)據(jù)不變。
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